苏州微分科技BBIN有限公司

　　苏州微分科技有限公司（SWF）是一家第三方分析测试公司，专注于为半导体工业的制造和研发提供二次离子质谱分析（SIMS: Secondary Ion Mass Spectrometry）服务。

　　苏州微分可以定量测试各种半导体材料的成分，如：Si，SiGe, SiC, III-V 化合物（GaAs, InP, GaSb, GaN) 以及II-VI (HgCdTe), 有助于制造工艺（MOCVD， MBE， CVD， 离子注入， 扩散等）的校准和优化。

　　BBIN bbin

　　苏州微分拥有多年欧美工作经验的高水平专家，庞大的标准样品库，以及位于法国的姐妹公司Probion Analysis

　　，能够提供高质、高效且优惠的SIMS服务，帮助客户缩短研发周期和提高成品率。

　　2022年7月15日苏州微分科技有限公司正式与江苏第三代半导体研究院合作，成立二次离子质谱（SIMS）技术联合实验室。苏州微分科技有限公司高玉民博士受聘成为国家第三代半导体技术创新中心（苏州）SIMS技术首席科学家。双方在未来将紧密合作，共同研发第三代半导体材料SIMS测试技术，提升国内SIMS分析行业的整体水平。

　　二次离子质谱SIMS是一种检测固体表面及近表面的成分信息的技术，几乎能够分析任何真空下稳定的固体，其不仅能够做到从H到U的全元素及同位素分析，同时还可以分析原子团和官能团，并可以对固体进行微区分析成像和深度动态剖析。

　　二次离子质谱（SIMS）是一种分析技术，可检测极低浓度的掺杂剂和杂质。 它可以在几纳米到几十微米的深度范围内提供元素深度分布。 SIMS通过用聚焦的初级离子束溅射样品表面来工作。在溅射期间形成的二次离子被提取并使用质谱仪分析。

　　对掺杂剂和杂质具有出色的检测灵敏度，对大多数元素具有ppma或更低的检测灵敏度，深度剖面具有出色的检测极限和深度分辨率，小面积分析（10μm或更大），出色的动态范围（高达7数量级），在某些应用中，主要元素组成可能。

　　常规检测项目周期一般是3个工作日，方法开发/验证、以及加急项目请来电咨询：（0512）65101962。以上仅供参考，以具体需求和实际情况为准。